第七屆光電設計與製造國際研討會會議報告
會議名稱：7th International Conference on Optics-photonics Design and Fabrication
報告人員：台灣大學機械工程研究所 博士班 張敬源
派赴國家：日本(橫濱市)
報告日期：20010/04/20
出國期間：20010/04/17~04/22
一、參加會議經過
本次第七屆光電設計與製造國際研討會(7th International Conference on Optics-photonics Design and Fabrication, ODF10)，舉辦地點位於日本神奈川縣橫濱市的Pacifico Yokohama。此會議主題為光學設計與製造檢測技術，共有六場專題演講與約九十篇口頭論文的發表，其中包含的領域有光學設計與模擬(Optical Design / Simulation)、新式光學元件製造技術(New Technologies for Optical Design and Fabrications)、光學元件(Optical Components Devices)、光學系統(Optical Systems)、奈米結構(Reflection Control by Nano-structure)等；另有一百六十二篇的海報張貼發表。本次會議主辦單位特別邀請美國亞利桑納大學R. Chipman教授與中央大學李正中教授於開幕式中介紹極化光學光追跡(Polarization Ray Tracing)及光學薄膜設計理論。兩位教授均為美國光學協會會士(Optical Society of America Fellow, OSA Fellow)與SPIE會士(SPIE Fellow)。本次研討會共有十六個國家與議，主要為日本、台灣、韓國、俄羅斯與美國，其中台灣大學機械所參與本研討會人員為馬劍清教授、王富正副教授與本人共三位。
圖一 台大機械所王富正副教授、馬劍清教授與本人(由左至右)合影
二、與會心得
本人在此會議所發表的論文題目為“An Instrument Designed for Tilt and Decenter Measurements of Lenses Produced on Production Line”。由於模造玻璃與塑膠射出之光學元件於製造過程中因材料冷卻時不均勻收縮，使鏡片第一曲面光軸與第二曲面光軸產生傾斜(tilt)與偏心(decenter)誤差，而降低鏡片之成像品質。光學元件之檢測方式可概略區分為接觸式與非接觸式檢測，其中接觸式檢測方法以Taylor Hobson公司生產之Talysurf PGI 2540與Panasonic公司生產UA3P為檢測主流，檢測原理為使用單點探針對待測試片進行輪廓掃描。而非接觸式檢測機台以Trioptics公司生產之OptiCentric𦲷為偏心與傾斜檢測標準，其檢測原理為應用準直光通中空試片載台，同時以精密平台轉動待測試片並檢測其焦點動態偏差。本論文應用極化光學搭配影像處理技巧提出一新式檢測方法，依據理論分析建立檢測函數(Inspection Function)並應用於光學透鏡片之製造誤差檢測。相較於現有檢測儀器與技術，本論文所提出之檢測方法具有影像處理之高速檢測特性，可應用於高產能之塑膠射出與玻璃模造線上檢測，同時本論文亦依照此檢測方法實際製作檢測儀器並對 HOYA𦲷 鏡片進行偏差量測，本儀器可應用於高產能之塑膠射出與模造玻璃線上檢測。本次報告中本人藉由事先準備的示範實驗對聽眾進行解說。其中美國亞利桑納大學R. Chipman教授(OSA fellow, SPIE fellow)與中央大學李正中教授 (OSA fellow, SPIE fellow)對本研究提出幾點問題與建議，令本人獲益良多，同時感謝此次能得到教育部資助及台大行政單位的協助參加此次學術會議。
圖二 中央光電所梁肇文助理教授、美國亞利桑納大學R. Chipman教授、本人與中央光電所李正中教授(由左至右)合影
圖三 李正中教授、R. Chipman教授與本人(由左至右)討論研究成果
圖四 本人向李正中教授(由左至右)說明研究成果與進行示範實驗
三、建議
這是本人第一次參與國外研討會，所幸事前準備相當充分，尚能回答與會人士所提出的問題，並在結束報告後與當地學者進行研究上的交流。事先準備簡單的實驗不但能增添會場中參與人士的興趣，更能有效地讓聽眾快速進入研究核心。在正式解說前做好充份演練，將能迅速且深入淺出地帶領聽眾瞭解自己的研究。
四、攜回資料名稱及內容
1.會議議程乙本
2.第七屆（2010）光電設計與製造國際研討會會議手冊乙本
3.會議全文CD光碟乙片